Products List 製品一覧(外観検査装置)
外観検査装置の製品一覧
全 59 件 見つかりました。
-
ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/08/18
【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)
ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション(残留異物)解析システム
ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/08/18
-
コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2025/07/29
YXLON(エクスロン) (Cheetah EVO )
最高のX線検査装置 アセンブリ/ラボ検査で優れた拡張性発揮
YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 |最終更新日:2025/07/29
-
ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/17
【ライカ】Ivesta 3 Fusion Optics グリーノ実体顕微鏡 (Ivesta 3E / Ivesta 3D / Ivesta 3 i(4Kカメラ内蔵タイプ))
驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。 「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ!
実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。 焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。 作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/17
-
ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/15
【ライカ】4K デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)
品質管理・外観検査のための Emspira3。 パソコン本体不要!モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なPCレスデジタルマイクロスコープ。
EmspiraはPCレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。ライカ マイクロシステムズ株式会社 |最終更新日:2025/04/15
-
日本電計 ソリューション推進部 |最終更新日:2025/03/05
AIとルールベースを活用した3次元外観検査ソリューション (OptoComb×愛電)
欠陥箇所を高精度で3次元定量化します!
「光コム」技術を活用した、検査、測定用の3Dスキャナーで、「長い焦点距離で離れた位置から 複雑形状のワークをμmの精度で測定」することで、ユーザー様の課題を解決します。今まで人に頼ってきた目視検査の自動化だけではなく、曖昧領域を得意とするAI外観検査との組み合わせもオススメです。日本電計 ソリューション推進部 |最終更新日:2025/03/05
-
株式会社OptoComb |最終更新日:2025/02/28
光コム3次元センサ上面検査装置 (OptoComb SA)
デスクトップ型光コム3次元センサ。 どなたでも簡単に高さ精度±1µmの3次元画像を取得できます。
光コム3次元センサーを活用した3次元検査装置のベースモデルです。XYZのステージによってワーク上面を検査します。凹凸のある鋳造製品の加工面など複雑形状部品の外観、形状、寸法検査が1度の測定で可能です。小型ワークを複数並べての同時検査など幅広い用途で活用できます。株式会社OptoComb |最終更新日:2025/02/28
-
株式会社OptoComb |最終更新日:2025/02/28
3次元AI外観検査装置 (OptoComb AIC)
画像カメラ×光コム3次元センサー×AI×ルールベース 全数自動外観検査の完成形がここに
ロボットアームに画像カメラ、光コム3次元センサー、AIを搭載した自動外観検査の最上位ソリューションです。画像カメラ、AIによる欠陥候補の検出を高速に行い、欠陥候補を光コム3次元センサーで測定します。ロボットアームを活用することで大型複雑形状ワークの多面検査に対応します。株式会社OptoComb |最終更新日:2025/02/28
-
株式会社OptoComb |最終更新日:2025/02/28
内面検査装置 (OptoComb HS)
高速ヘリカルスキャン測定による内面検査装置
光コム3次元センサーと45°ミラーと組み合わせ、高精度測定と独自の同軸構成を活用し、穴の内壁や複雑な円筒構造を数秒で検査できます。株式会社OptoComb |最終更新日:2025/02/28
-
株式会社フローベル |最終更新日:2024/11/15
コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)
表裏(両面)の位置ずれ/寸法/計測 両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。
水晶振動子、MEMS、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に! 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能! 表裏光軸補正はマイクロステージ+ソフトウェアで高精度に補正! ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定!(条件により異なる) 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能!株式会社フローベル |最終更新日:2024/11/15
