顕微鏡の製品一覧

全 36 件 見つかりました。

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/08/18

  【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)

  ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション（残留異物）解析システム
  
  ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/08/18

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  # 洗浄度 # ISO16232 # コンタミ解析 # ＶＤＡ１９ # 残渣検査 # パーティクル

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

  【ライカ】Ivesta 3 Fusion Optics グリーノ実体顕微鏡 (Ivesta 3E ／ Ivesta 3D ／ Ivesta 3 i（4Kカメラ内蔵タイプ）)

  驚きの立体感。スペックがすごいだけじゃない。 「もっと見えて、疲れない」実体顕微鏡での「基板修理」や「金属部品の傷検査」の効率のアップ！
  
  実績あるライカ特許技術FusionOpticsをエントリーモデルにも搭載。アポクロマート補正レンズに9倍ズーム。 焦点深度は従来のS6 Eの約3倍に増加。 作業スペースも122mmと広く、視野も広くなりました。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/17

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  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/15

  【ライカ】4K　デジタルマイクロスコープ (Emspira 3)

  品質管理・外観検査のための Emspira3。　 パソコン本体不要！モニタ直結で4Kライブ表示、 画像保存、測定まで可能なＰＣレスデジタルマイクロスコープ。
  
  EmspiraはＰＣレスで測定、注釈、ドキュメンテーション共有機能をデジタルマイクロスコープに統合した、単 一のオールインワン検査ソリューションです。外観検査とドキュメンテーションを短時間で共有する ことができます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/04/15

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  # ４Ｋデジタルマイクロスコープ # ＰＣレス # 安価マイクロスコープ # 計測 # 操作簡単 # デジタルマイクロスコープ

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  メタセンシング株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24

  ラマンセンサー (Raman EYE)

  プロセス・顕微計測が可能なハイブリッドラマンセンサー
  
  532nm(緑色レーザー),785nm(赤色レーザー),830nm(近赤外レーザー)の波長から励起光源を選択でき、様々な材料計測を迅速に実現します。世界最小のプロセス・顕微計測ラマンセンサーを実現することで、あらゆるプラットフォームに搭載でき、お客様の環境や設備に合わせたご提案が可能です。

  メタセンシング株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24

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  日本カンタム・デザイン株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24

  原子間力走査型電子顕微鏡 (FusionScope)

  AFMとSEMのコンビネーションによるIn-situ測定
  
  AFMとSEMの相関解析を行うことができる新しいプラットホームです。幅広いAFMの測定技術にSEMの利点を加えることで新たな研究領域を創造します。

  日本カンタム・デザイン株式会社 ｜最終更新日：2024/12/24

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  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

  8インチXY電動ステージ制御　両面顕微鏡計測システム (TOMOS-80XY)

  ウエハー表裏面のアライメントマークの自動検査システム
  
  ◆指定したワークの測定箇所に自動で移動し、水晶振動子、ＭＥＭＳ、半導体ウェハ、電子部品の表裏パターンやアライメントマークのずれを自動測定できます。 ◆ＸＹステージとワークの装着位置のずれ補正アライメント機能、測定対象を映像中心位置に移動制御するセンタリング機能を搭載。正確に移動制御し測定エラーを防ぎます。

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

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  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

  両面顕微鏡位置ずれ計測システム (TM-200)

  AF機能を搭載し表裏の位置ずれを高精度自動計測！ ワークを裏返しせず、同軸で表裏の観察・外観検査が可能！
  
  ・小型化高精度化し、両面の位置ずれを±１umで測定 ・FA自動化へ対応可能なシステム ・両面ともにAFを搭載可能で、再現性が高い計測が可能 ・下側にIRカメラも搭載可能で、内部の位置ずれも計測可能

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

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  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

  コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

  表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。
  
  水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる） 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

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  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/14

  高速オートフォーカスユニット (MimicⅡ-AF/CL)

  ◎画像AF ◎高速 ◎PCレス
  
  ■オートフォーカスを高速・高精度で実現し、円滑な作業を実現 ■フォーカス繰り返し精度を重視した画像コントラスト方式を採用 ■顕微鏡や装置などに後付けが可能な凡庸性の高い小型ユニット ■カメラは様々な機種に対応が可能※メーカー・対応機種はご相談ください

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/14

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  株式会社エビデント ｜最終更新日：2024/11/13

  3D測定レーザー顕微鏡 (OLS5100)

  洗礼されたツールで、測定・解析を迅速に
  
  高い光学性能による"正確な測定"という特徴に加え、"実証実験で発生した煩雑なデータ管理による手戻りを防止"する【実験トータルアシスト】と"粗さ測定において誤った条件によるデータ取得によって発生していた測定ミス"を回避する【スマートレンズアドバイザー】を新たに搭載！ 従来機において測定の手戻り、粗さ測定ミスによって発生していた作業効率を30%削減することを実現しております。

  株式会社エビデント ｜最終更新日：2024/11/13

New Products 最近追加された製品

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  Sound One （聴感アンケート／Audio Test） (SOC－２)

  日本電計_テスト

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  テストテスト (012345)

  日本電計_テスト

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  test (test)

  テストメーカー

  # aaaaaaaaaaaa#

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  神奈川試験室 (D-LAB)

  日本電計株式会社

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  test222 (test222)

  テストメーカー

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  MP5000シリーズ　モジュラ・プレシジョン・テスト・システム (MP5103)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク　ケースレーインスツルメンツ社

  # モジュール型計測システム # 高精度テスト # 自動計測システム # 電子機器評価 # 信号測定 # 試験自動化 # 製品検証 # 研究開発支援 # 測定ソリューション # ケースレーインスツルメンツ

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  【新製品】7シリーズDPOオシロスコープ (DPO714AX)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク

  # 高性能オシロスコープ # デジタルフォスファー # 高帯域測定 # 低ノイズ測定 # ジッタ解析 # 信号忠実性 # 高速サンプリング # 波形キャプチャ # 革新的計測 # テクトロニクス

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  YXLON（エクスロン） (Cougar EVO )

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社

  # テスト

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