材料試験の製品一覧

全 6 件 見つかりました。

• 

  資料ダウンロード

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/08/18

  【ライカ】コンタミネーション解析システム (Leica Cleanliness Expert)

  ルーチンの品質管理を高精度、容易に コンタミネーション（残留異物）解析システム
  
  ライカ Cleanliness Expert は、微細機構部品およびエンジン部品の洗浄液内のコンタミ測定向けに設計されました。メンブレンフィルタで捉えた微粒子の分類および特定化を目的とする、すべてのアプリケーションで使用できます。

  ライカ マイクロシステムズ株式会社 ｜最終更新日：2025/08/18

  資料ダウンロード

  # 洗浄度 # ISO16232 # コンタミ解析 # ＶＤＡ１９ # 残渣検査 # パーティクル

• 

  資料ダウンロード

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/29

  YXLON（エクスロン） (Cheetah EVO )

  最高のX線検査装置 アセンブリ／ラボ検査で優れた拡張性発揮
  
  YXLON Cheetah EVOシリーズは、SMT、半導体、ラボのアセンブリアプリケーションに最適な「最高クラス」の検査ソリューションです。ソフトウェアとハードウェアの最適化により、現在販売されているどの装置よりも高品質の検査画像を安定して生成します。

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社 ｜最終更新日：2025/07/29

  資料ダウンロード

• 

  資料ダウンロード

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

  コンパクトタイプ 両面顕微鏡 (表裏位置ずれ計測システム AF:オプション) (TOMOS-50)

  表裏(両面)の位置ずれ／寸法／計測　両面測定顕微鏡。 高精度、低価格化を実現。
  
  水晶振動子、ＭＥＭＳ、インクジェットノズル、半導体電子部品などの検査に！ 表裏両面を同時撮影、寸法計測、位置ずれ計測が可能！ 表裏光軸補正はマイクロステージ＋ソフトウェアで高精度に補正！ ±0.2μm以下の繰り返し精度で表裏の位置ずれを測定！（条件により異なる） 装置組込用両面顕微鏡モジュールとしての販売も可能！

  株式会社フローベル ｜最終更新日：2024/11/15

  資料ダウンロード

• 

  日置電機株式会社 ｜最終更新日：2024/11/11

  絶縁抵抗試験器 (BT5525)

  バッテリー生産工程の絶縁抵抗試験を確実に
  
  今まで検出できなかった微小な劣化や故障を正確に検出したい 安定した測定によって高い生産性を実現したい これらのバッテリー市場要求に応えるために開発された絶縁抵抗試験器です。

  日置電機株式会社 ｜最終更新日：2024/11/11

• 

  資料ダウンロード

  日置電機株式会社 ｜最終更新日：2020/05/08

  インピーダンスアナライザ (IM3570)

  異なる測定条件の高速の検査が１台で可能に
  
  •LCR 測定, DCR 測定, スイープ測定の連続測定と高速検査を１台で実現 •LCR モードで最速1.5ms(1kHz), 0.5ms(100kHz)の高速測定 •基本確度±0.08%の高精度測定 •圧電素子の共振特性検査、機能性高分子コンデンサのC-Dと低ESR 測定、インダクタ(コイル・トランス)のDCRとL-Q 測定などに最適

  日置電機株式会社 ｜最終更新日：2020/05/08

  資料ダウンロード

• 

  コニカミノルタジャパン株式会社 ｜最終更新日：2017/03/30

  分光測色計 (CM-25cG)

  色彩と光沢の同時測定が可能な「Two in One」モデルの分光測色計
  
  本測定器は色彩値と光沢値を同時に測定することが可能な「Two in One」モデルの分光測色計です。 大量のサンプルを測定する必要のある測定現場で、作業性の効率化（時間短縮）に大きく貢献いたします。

  コニカミノルタジャパン株式会社 ｜最終更新日：2017/03/30

New Products 最近追加された製品

• 

  Sound One （聴感アンケート／Audio Test） (SOC－２)

  日本電計_テスト

• 

  テストテスト (012345)

  日本電計_テスト

• 

  test (test)

  テストメーカー

  # aaaaaaaaaaaa#

• 

  神奈川試験室 (D-LAB)

  日本電計株式会社

• 

  test222 (test222)

  テストメーカー

• 

  MP5000シリーズ　モジュラ・プレシジョン・テスト・システム (MP5103)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク　ケースレーインスツルメンツ社

  # モジュール型計測システム # 高精度テスト # 自動計測システム # 電子機器評価 # 信号測定 # 試験自動化 # 製品検証 # 研究開発支援 # 測定ソリューション # ケースレーインスツルメンツ

• 

  【新製品】7シリーズDPOオシロスコープ (DPO714AX)

  株式会社テクトロニクス＆フルーク

  # 高性能オシロスコープ # デジタルフォスファー # 高帯域測定 # 低ノイズ測定 # ジッタ解析 # 信号忠実性 # 高速サンプリング # 波形キャプチャ # 革新的計測 # テクトロニクス

• 

  YXLON（エクスロン） (Cougar EVO )

  コメットテクノロジーズ・ジャパン株式会社

  # テスト

prev next

計測・試験機器総合
Web展用語集

用語集キーワード検索

頭文字検索

• ア
• イ
• ウ
• エ
• オ
• カ
• キ
• ク
• ケ
• コ
• サ
• シ
• ス
• セ
• ソ
• タ
• チ
• テ
• ト
• ナ
• ニ
• ネ
• ノ
• ハ
• ヒ
• フ
• ヘ
• ホ
• マ
• ミ
• ム
• メ
• モ
• ユ
• ラ
• リ
• ル
• レ
• ロ
• A
• B
• C
• D
• E
• F
• G
• H
• I
• J
• L
• M
• N
• O
• P
• Q
• R
• S
• T
• U
• V
• W
• X
• Z
• 3
• 4
• 6

新着計測器用語

• LDP
• CQD
• LoRaWAN
• EVM
• レゾルバ

用語集ランキング

• 校正電圧（CAL）
• 4端子抵抗測定法
• CIEDE2000色差式
• エリアジング
• 固有誤差
• サバール板
• CIE標準分光視感効率
• 曲線因子
• IC開封装置
• 許容信号源抵抗
• プリトリガ
• レクタンギュラ窓（矩形窓）
• 振動速度・振幅・加速度
• FTA
• CIE標準イルミナント

Web展用語集を見る